自動平衡技術(shù)電橋，4端對開爾文測試端

可選配內(nèi)部±40V偏置電壓源

簡體中文、英文操作語言

分檔測量、列表掃描、繪圖掃描、開路、短路、負(fù)載校正等等功能

繪圖掃描無繼電器跳動噪聲及等待延時(shí)

配備電導(dǎo)率o·介電常數(shù)E的運(yùn)算功能

進(jìn)行測試數(shù)據(jù)、測試條件保存（U盤或內(nèi)部）

繪圖掃描圖像直接拷屏到U盤功能

加強(qiáng)的測試端保護(hù)功能

USB、GPIB、RS232、LAN等上位機(jī)連接接口

自動平衡電橋技術(shù)

以往低端簡化的運(yùn)放阻抗測量電路如下圖：

以上電路在實(shí)際運(yùn)作時(shí)，隨著頻率的升高，虛地點(diǎn)會越來越不理想，導(dǎo)致流過被測件DUT的電流信號不能全部進(jìn)入IV轉(zhuǎn)換標(biāo)準(zhǔn)電阻Rr，所以會造成測量誤差越來越大。

而ZX8210使用的自動平衡電橋測試原理，把上圖簡易的測量運(yùn)放改進(jìn)成：Lot檢零電路，0度90度數(shù)字檢相及調(diào)制解調(diào)電路，

Lcur高頻驅(qū)動電路等等組成的矢量負(fù)反饋網(wǎng)絡(luò)。從而保證了測量電路的虛地端更接近理想。下面2圖是簡易運(yùn)放阻抗測量電路以及自動平衡電橋阻抗測量電路Lcur（虛地點(diǎn)）的波形實(shí)測對比：

使用簡易運(yùn)放阻抗測量電路1MHz測量6.8nFLcur（虛地點(diǎn)）實(shí)測波形如下：

使用簡易運(yùn)放阻抗測量電路1MHz測量6.8nFLcur

（虛地點(diǎn)）實(shí)測波形

使用自動平衡電橋阻抗測量電路1MHz測量6.8nFLcur

（虛地點(diǎn)）實(shí)測波形

以上可見，使用簡易運(yùn)放阻抗測量電路虛地端電壓峰峰值高達(dá)59mV，而使用自動平衡電橋原理的虛地端電壓峰峰值僅為2mV，所以：使用自動平衡電橋的虛地性能遠(yuǎn)遠(yuǎn)好于使用一個簡易運(yùn)放做測量的電路。

主要測量頁面

加強(qiáng)的測試端保護(hù)功能

一般高頻的阻抗分析儀為了保證其測試端電平的幅度一致性，其測試端非常容易被靜電或被測件殘留電荷沖壞，而這些進(jìn)口儀器是非常昂貴的。

為了防止將被充電電容錯誤的連接到測量端口，ZX8210優(yōu)化和強(qiáng)化從電容的放電電壓中保護(hù)內(nèi)部電路的殘留電荷保護(hù)功能。

配備多種接

基本測量精度

與國際業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測試效果對比

ZX8210測量變壓器自諧振頻率SRF：1.19750MHz

ZX8210測量變壓器自諧振頻率SRF：1.19750MHz

ZX8210-5M：20Hz-5MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-10M：20Hz-10MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-15M：20Hz-15MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-20M：20Hz-20MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-25M：20Hz-25MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210-30M：20Hz-30MHz阻抗分析儀+LCR表

ZX8210H-1M: LCR Meter, 20Hz~1MHz,40V bias voltage sources

ZX8210H-2M: LCR Meter, 20Hz~2MHz,40V bias voltage sources